• FIB 분석 시스템

    Nano, Micro 미세가공 및 반도체
    Packaging 계면 특성 분석 수요 확대에
    따른 고객 요구에 대응하기 위해서
    당사는 고휘도 FIB System 과 FE-SEM을
    구축하여 다양한 시료에 대한 분석 결과를
    제공하고 있습니다.

  • Prometheus

    고휘도 ICP Ion Source 적용
    High Speed Cutting 가능
    컴팩트 고진공 챔버 구현
    Hybrid Stage System 구현
    Micro Positioner 장착


  • 고객문의&상담실

  • NEWS & NOTICE

  • 02-6965-7878

    FAX : 070-4032-6666

    상담시간 : 오전 9:00 ~ 오후 5:30

  • 에스엘이노베이션 TEM 분석 Open~

    저희 에스엘이노베이션은 TEM 시료분석 서비스 제공을 시작하였습니다.분석시료, 분석 시간, 분석료 관련내용은 연락주세요.많은 이용 부탁드립니다. 감사합니다.
  • 에스엘이노베이션 SEM 분석 Open~

    저희 에스엘이노베이션은 SEM 시료분석 서비스를 제공하고 있습니다. 분석시료, 분석 시간, 분석료 관련내용은 연락주세요.많은 이용 부탁드립니다.